Przetarg 12473096 - 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa spektrometru FT-IR z...

ejmuje dostawę na rzecz Zamawiającego spektrometru FT-IR z oprogramowaniem – 1 zestaw. Zamawiający wymaga zaoferowania okresu gwarancji na przedmiot zamówienia na minimum 24 miesiące. Oferty z krótszym okresem gwarancji niż określone powyżej zostaną odrzucone. 3. Nazwa zamówienia ujęta w tytule zamówienia nie stanowi nazwy własnej producentów/dystrybutorów produktów, lecz jest to oznaczenie wyłącznie pomocnicze zastosowane przez Zamawiającego.4. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ.
Część zamówienia: LOT-0001 Dostawa spektrometru FT-IR z oprogramowaniem dla Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego Polskiej Akademii Nauk w Lublinie – 1 zestaw 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa spektrometru FT-IR z oprogramowaniem dla Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego Polskiej Akademii Nauk w Lublinie – 1 zestaw.2. Zakres zamówienia obejmuje dostawę na rzecz Zamawiającego spektrometru FT-IR z oprogramowaniem – 1 zestaw. 3. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ.Spektrometr FT-IR z oprogramowaniem – 1 zestawLp. PARAMETRY WYMAGANE - MINIMALNE WARUNEK1 Spektrometr FT-IR z oprogramowaniem Warunek konieczny1.1 stosunek sygnału do szumu co najmniej S/N = 37 000:1 (dla rozdzielczości 4 cm^-1, 1 min. zbieranie widma, pik 2100 cm^-1, peak to peak) Warunek konieczny1.2 okienko komory pomiarowej z wysoko-przepuszczalnego KBr Warunek konieczny1.3 rozdzielczość nie gorsza niż: 0,9 cm^-1 Warunek konieczny1.4 dostępne rozdzielczości do wyboru: 0,9; 2; 4; 8; 16 cm^-1 Warunek konieczny1.5 zakres co najmniej: 7800 – 350 cm^-1 Warunek konieczny1.6 dynamiczny interferometr Michelsona 30°(60°) ze zwierciadłem poruszanym elastycznym złączem mechanicznym i automatycznie ustawiany Warunek konieczny1.7 uszczelniona optyka, dzielnik wiązki Ge/KBr, zabezpieczona przed wilgocią Warunek konieczny 1.8 laser półprzewodnikowy Warunek konieczny1.9 precyzja liczby falowej nie gorsza niż 0,001 cm^-1 (przy 2000 cm^-1) Warunek konieczny Uwaga Kryterium oceny ofert1.10 dokładność liczby falowej nie gorsza niż 0,1 cm^-1 Warunek konieczny1.11 ceramiczne źródło promieniowania Warunek konieczny1.12 detektor DLATGS z kontrolą temperatury bez konieczności chłodzenia Warunek konieczny1.13 możliwość wbudowania w komorę interferometru automatycznego osuszacza – polimerowej membrany usuwającej elektrolitycznie wodę z wnętrza komory interferometru, eliminującej konieczność użycia wkładów osuszających Warunek dodatkowyUwaga Kryterium oceny ofert1.14 automatyczne ustawianie i ogniskowanie Warunek konieczny1.15 próbka wzorca polistyrenowego Warunek konieczny1.16 automatyczne rozpoznawanie przystawek odbiciowych, przystawek ATR i innych Warunek konieczny1.17 komora pomiarowa w wymiarach minimalnych: 20 cm x 14 cm x 10 cm (szerokość x głębokość x wysokość) Warunek konieczny1.18 wymiary nie większe niż: 39 cm x 25 cm x 21 cm (szerokość x głębokość x wysokość), tolerancja 10% Warunek konieczny1.19 ciężar nie większy niż 8,5 kg (tolerancja 10%) Warunek konieczny1.20 zużycie prądu podczas pracy – nie większe niż 75 VA Warunek koniecznyUwaga Kryterium oceny ofert2. Oprogramowanie do sterowania przyrządem, walidacji, zbierania i opracowywania danych: Warunek konieczny2.1 tryby pracy: postrun – tryb pracy do przetwarzania danych, pomiarowy, ilościowy, fotometryczny Warunek konieczny2.2 wbudowane funkcje diagnostyki aparatu (przy inicjalizacji sprawdzane są systemy elektryczny, sygnałowy oraz optyczny), funkcja ciągłego monitorowania rodzaju dzielnika wiązki, źródła światła, lasera, warunków wilgotności i informacji odnośnie akcesoriów rozpoznanych przy starcie Warunek konieczny2.3 licznik godzin pracy źródła ceramicznego, lasera i informacja o czasie pozostałym do następnego przeglądu serwisowego Warunek konieczny2.4 uśrednianie widm Warunek konieczny2.5 wszystkie zdarzenia diagnostyczne zapisywane w oddzielnym pliku z dokładną godziną oraz datą (log file) Warunek konieczny2.6 wykonywanie podstawowych działań arytmetycznych, wykrywanie pików, korekcję zerowej linii bazowej, trzypunktową korekcję linii bazowej, wielopunktową korekcję linii bazowej, wygładzanie, różniczkowanie Warunek konieczny2.7 wbudowane procedury Kubelka-Munk, Kramers-Kronig, korekcję widm ATR, przekształcenia fourierowskie FFT, całkowanie, zmiana absorbancji na transmitancję i odwrotnie, poszukiwanie widma, zamiana skali w cm^-1 na nm i odwrotnie Warunek konieczny2.8 zapisywanie danych w formatach JCAMP-DX, ASCII, CSV Warunek konieczny2.9 tworzenie raportów własnych lub na postawie istniejących wzorców zawartych w oprogramowaniu Warunek konieczny2.10 zgodne z wytycznymi: EP, CHP, JP, USP, ASTM Warunek konieczny2.11 zgodne z GLP/GMP Warunek konieczny2.12 umożliwiające przeszukiwanie i tworzenie własnych bibliotek Warunek konieczny2.13 moduł oprogramowania posiadający co najmniej 23 gotowe procedury pomiarowe wskazujące każdy krok analizy Warunek konieczny2.14 zawierające standardowo bibliotekę widm FTIR co najmniej 12000 związków organicznych, polimerów, produktów farmaceutycznych, związków nieorganicznych, dodatków do żywności, zanieczyszczeń Warunek konieczny2.15 zawierające dodatkowo bibliotekę widm FTIR co najmniej 3900 widm IR polimerów i dodatków do polimerów Warunek konieczny2.16 zawierające dodatkowo bibliotekę widm FTIR tworzyw sztucznych poddanych procesowi termicznego niszczenia, co najmniej 110 widm Warunek konieczny2.17 zawierające dodatkowo bibliotekę widm FTIR tworzyw sztucznych poddanych działaniu promieniowania – co najmniej UV 210 widm Warunek konieczny3. Przystawka ATR: Warunek konieczny3.1 Zakres spektralny co najmniej 7800-400 cm^-1 Warunek konieczny3.2 Kryształ – diament Warunek konieczny3.3 Kąt padania - 45° Warunek konieczny3.4 Maksymalne ciśnienie nacisk nie mniejsze niż 10000 psi (ok. 689,47 Ba) Warunek konieczny3.5 średnica co najmniej 1,8 mm Warunek konieczny3.6 płyta wierzchnia ze stali nierdzewnej Warunek konieczny3.7 Dodatkowy, łatwo wymienialny przez użytkownika dysk z wbudowanym kryształem wykonanym z Ge (germanu) Warunek konieczny4. Rozkładana cela pomiarowa do pomiarów cieczy: Warunek konieczny4.1 Okienka ZnSe typu plain oraz drilled o wymiarach 32x3 mm – po 1 szt. Warunek konieczny4.2 Uchwyt pomiarowy z uszczelkami Warunek konieczny4.3 Komplet przekładek o drodze optycznej 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.200, 0.500, 1.000 mm (po 2 szt. każdej z przekładek) Warunek konieczny4.4 Strzykawka 2 cm^3 – 2 szt. Warunek konieczny (...) cd. w polu 5.1.6 Informacje ogólne - Informacje dodatkowe